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一、測(cè)量導(dǎo)電回路電阻的目的

高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路直流回阻包括套管導(dǎo)電桿電阻、導(dǎo)電與觸頭連接處電阻和動(dòng)、靜觸頭之間的接觸電阻等。導(dǎo)電桿電阻一般不會(huì)變化，其他兩處的鏈接電阻和接觸電阻由于各種因素之間的影響（如觸頭表面氧化、觸頭間殘留有機(jī)械雜物或碳化物、接觸壓力下降、接觸面積減小和短路電流燒傷等），常常有所增加。所以測(cè)量每相導(dǎo)電回路電阻，實(shí)際上是檢查動(dòng)、靜觸頭之間的接觸電阻和連接電阻的變化，主要是判斷動(dòng)、靜觸頭是否接觸良好。運(yùn)行中、動(dòng)、靜、觸頭之間的接觸電阻往往會(huì)增大，使正常運(yùn)行工作電流下發(fā)生過(guò)熱，尤其是通過(guò)短路電流時(shí)，觸頭發(fā)熱更嚴(yán)重，可能燒傷周?chē)^緣或造成觸頭燒溶粘接，從而影響開(kāi)關(guān)跳閘時(shí)間和開(kāi)斷能力，甚至產(chǎn)生拒動(dòng)發(fā)生，所以相關(guān)規(guī)程規(guī)定，開(kāi)關(guān)在安裝后、頂起（包括大小修）和開(kāi)斷短路電流一定次數(shù)后，都要進(jìn)行此項(xiàng)試驗(yàn)。

二、試驗(yàn)方法

S—電源控制開(kāi)關(guān)；Rf—分壓電阻；Rx—被測(cè)電阻；

PA—直流電流表；PV—直流毫伏表

由于導(dǎo)電回路接觸電阻很小，都是微微歐數(shù)量級(jí)，所以電壓表內(nèi)阻遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于此值，故導(dǎo)電回路電阻值Rx＝U／I。

根據(jù)動(dòng)、靜頭的接觸面上有一層極薄的膜電阻的影響，如果直流電流太小，則所測(cè)電阻小于實(shí)際電阻值，不準(zhǔn)確。相關(guān)規(guī)程要求直流電流I≥100A，使接觸面上的極薄的膜電阻擊穿，所測(cè)電阻值與實(shí)際電阻值相符合。

三、目前開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路電阻測(cè)試儀

以前高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路電阻測(cè)量采用直流伏安法，電流一般在10A，電源由蓄電池供給。顯然不符合《規(guī)程》要求的I≥100A。隨著電學(xué)技術(shù)的發(fā)展，目前開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路電阻測(cè)量都采用專門(mén)的測(cè)試儀，如我公司自行研發(fā)生產(chǎn)的回路電阻測(cè)試儀。

回路電阻測(cè)試儀具有以下優(yōu)點(diǎn)：

1.電流滿足要求，I≥100A，200A可選，所以測(cè)量值和實(shí)際值相符合。

2.測(cè)試儀內(nèi)部附有標(biāo)準(zhǔn)電阻，測(cè)量精度較高。

3.電流值能自動(dòng)恒流，有效減少主流電源波動(dòng)對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響。

4.采用四端子接線法，有效排除測(cè)試線電阻對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響。

5.測(cè)量電流自動(dòng)鎖定，不需要人工調(diào)節(jié)。

6.配備高速熱敏打印機(jī)，實(shí)時(shí)打印試驗(yàn)結(jié)果，便于記錄。

四、測(cè)量注意事項(xiàng)

1.如果采用儀器測(cè)量，則按說(shuō)明書(shū)進(jìn)行。如果采用伏安法測(cè)量，防止因開(kāi)關(guān)測(cè)量過(guò)程中跳閘而燒壞毫儀表。

2.測(cè)量前將開(kāi)關(guān)電動(dòng)合閘后測(cè)量，只有允許手動(dòng)合閘的開(kāi)關(guān)才可以在手動(dòng)合閘后進(jìn)行測(cè)量。

3.在測(cè)前應(yīng)該將開(kāi)關(guān)跳合幾次，以消除觸頭之間氧化膜影響。

4.如果開(kāi)關(guān)有主、輔觸頭或并聯(lián)支路，應(yīng)對(duì)并聯(lián)的每一對(duì)觸頭分別分別進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量時(shí)應(yīng)在非被測(cè)的觸頭間墊以薄的絕緣物。